整流橋怎么測量好壞?2種方法測量整流橋的好壞
一、電阻測試法

電阻測試法是利用二極管的單向?qū)�通特性，測試其正向有電阻讀值與反向截止無讀值來判斷其是否好壞，這套測量整流橋的好壞方法是很常見的一種。

測試工具與對象：一臺正常的萬用表與一款待判斷的整流橋。

測試條件設(shè)定：萬用表打到20K歐姆檔位，紅筆萬用表正極，黑筆萬用表負極。

測試方法與步驟為：紅筆接整流橋負極，黑筆分別接兩個交流腳位，若均有讀值顯示則說明負極與交流之間的兩顆芯片正常；黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測兩個交流腳位，若均有讀值顯示則表明整流橋正極與交流間的兩顆芯片為正常。

測試結(jié)果總結(jié)：若測試過程中結(jié)果反饋如上所述，則表示該整流橋4顆芯片均正常，萬用表讀值為該測試芯片的內(nèi)阻值；若出現(xiàn)非一致的情況，比如數(shù)值為1（無窮大）則說明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。

二、壓降測試法

壓降測試法是利用萬用表二極管檔位直接測試整流橋內(nèi)部二極管芯片的方法，讀值為壓降的參考值或近似值。測試方法與電阻測試法大致類似，也是很常見的一種測量整流橋好壞的方法。

測試工具與對象：一臺萬用表與一款待判斷的整流橋產(chǎn)品。

測試條件設(shè)定：萬用表打到二極管檔位，紅筆萬用表正極，黑筆萬用表負極。

測試方法與步驟為：紅筆接整流橋負極，黑筆接整流橋正極，此時測試結(jié)果為整個整流橋的壓降參考值；如需分別測試每顆芯片的壓降值，則方法為黑筆接整流橋正極，紅筆分別探測兩個交流腳位；紅筆接整流橋負極，黑筆分別探測兩個交流腳位，此時所測結(jié)果為內(nèi)部獨立二極管芯片的壓降參數(shù)值。

測試結(jié)果總結(jié)：上述測試結(jié)果為該整流橋內(nèi)部二極管芯片壓降的參考值，有示數(shù)說明該芯片正常，可以輔助判斷整流橋通斷與好壞情況。如有非一致的情況出現(xiàn)，比如數(shù)值為1（無窮大）則說明整流橋中該顆芯片已經(jīng)損壞。